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标题：LEM莱姆LDSR 0.3-NP半导体3 PHASE LEAKAGE CURRENT DETECTION技术方案应用介绍 LEM莱姆公司近期推出的LDSR 0.3-NP半导体3相位泄漏电流检测技术，为电子设备的安全运行提供了新的解决方案。该技术采用先进的半导体材料和独特的检测方案，能够精确地检测电子设备中的泄漏电流，有效防止因泄漏电流过大而导致的设备损坏和安全隐患。 LDSR 0.3-NP半导体材料具有优良的导电性能和极低的热阻，使得设备在运行过程中产生的热量能够迅速散失，从而保证设备的